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貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試試劑
描述：

貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
訂貨號：7800370,7800372,7800377,7800499
貝克曼原廠原包裝。

  • 產(chǎn)品型號：7800370
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時間：2025-03-07
  • 訪問量：4405
產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試試劑

產(chǎn)品概述

貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
訂貨號：7800370,7800372,7800377,7800499
 

北京聞易科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標(biāo)準(zhǔn)測試試劑。標(biāo)準(zhǔn)粒子等，如您需要的不在本列表，請致電我司查詢。

Part NoDescription
6600703Dispersant IA Nonionic (15 mL)
6600704Dispersant IB Nonionic (15 mL)
6600705Dispersant IC Nonionic (15 mL)
6600706Dispersant IIA Anionic (15 mL)
6600707Dispersant IIIA Cationic (15 mL)
6600708Dispersant Mixed Kit (5 x 15 mL)
7800370G15, Nominal 15 µm Garnet Particles (10/box)
7800372GB500, Nominal 500 µm Glass Beads (5 x 19 g)
7800377L300, Nominal 300 nm Latex Particles
7800499G35, Nominal 35 µm Garnet Particles
8546733isoton Ⅲ diluent

貝克曼庫爾特粒度分析儀系列

  • Multisizer 4e 顆粒/細(xì)胞計數(shù)及粒度分析儀
  • Multisizer 3顆粒/細(xì)胞計數(shù)及粒度分析儀
  • DelsaMax PRO 多角度Zeta電位及納米粒度同步分析儀
  • DelsaMax CORE 靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀
  • SA3100比表面積及孔徑分析儀
  • LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
  • LS 13 320系列全新微納米激光粒度分析儀

 

粒度分析的基本概念

（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；

（2）粒度：顆粒的大??；

（3）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；

（4）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；

（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；

（6）等效粒徑：指當(dāng)一個顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時，我們就用該球形顆粒的直

徑來代表這個實際顆粒的直徑；

（7）D10，累計分布百分?jǐn)?shù)達到10% 所對應(yīng)的粒徑值；

D50，累計分布百分?jǐn)?shù)達到50%時所對應(yīng)的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；

D90，累計分布百分?jǐn)?shù)達到90%時所對應(yīng)的粒徑值；

D（4,3）體積或質(zhì)量粒徑平均值；

常用的粒度測量方法

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計數(shù)器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點

篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點：速度慢、代表性差，無法測超細(xì)顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。 缺點：測試時間較長。

電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。

電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。

超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進行在線測量和干法測量。 缺點：結(jié)果受分布模型影響較大

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